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 ITEM 1: Equipamento: Sistema completo Microscópio de Força Atômica Com Sistema de Varredura XY          QUANTIDADE: 01
ESPECIFICAÇÃO COMPLEMENTAR:  Sistema completo Microscópio de Força Atômica para amostras pequenas e médias, com sistema de varredura XY completamente dissociado do sistema de varredura em Z, permitindo eliminação do efeito crosstalk. Sistema de varredura em XY com curvatura zero de fundo, cabeçote AFM, visualização óptica direta no eixo e câmera CCD de alta resolução digital com zoom digital. Sistema de varredura motorizado no eixo Z, plataforma de foco manual, controles eletrônicos, computador, software e acessórios. Descrição da configuração: Sistema de varredura XY e Z completamente dissociados com Closed-Loop utilizado para a verificação do sistema de varredura do AFM Scanner de XY com controle de circuito fechado – Único módulo do tipo paralelo cinemática, fase deflexão – Resolução: 0,15 nm (closed-loop), <0,01 nm (open-loop) sistema de varredura em Z com controle de circuito fechado de feedback – Nível de ruído: 0,02 nm (típico) / 0,05 nm (máximo) CABEÇOTE SLD (SCANNER Z) Detecta a deflexão de um cantilever usando SLD (Diodo Super Luminescence) para feedback de topografia – Centro de comprimento de onda: 830 nm Inclui uma força em Z-scanner com flexão guiada – Faixa de varredura: 12 µm / 25µm (OPCIONAL) – Nível de ruído: 0,02 nm (típico) / 0,05 nm (máximo) – Ângulo do cantilever com o plano horizontal: 12 graus Baixa coerência elimina a interferência óptica, necessário para a precisão da espectroscopia de F / D – Comprimento coerente: ~ 50 um – Faixa de tensão a ser aplicada ao cantilever em modos elétricos: -10 V to 10 V Sistema de travamento do scanner Z de fácil montagem/remoção Inclui o kit de detecção de infravermelho para localizar a posição do feixe de SLD Microscópio ótico no mesmo eixo que o scanner Z Fornece a visão no eixo intuitiva topo de uma amostra com alta clareza Inclui uma lente objetiva de 10X integrada Resolução: 1 µm (0,28 N.A.) Campo de Visão: 480 × 360 µm Câmera digital CCD de alta resolução com zoom digital Elementos de Imagem Eficazes: WVGA 752 × 480 progressivo CCD Interface Digital: USB Taxa de quadros: até 20 Hz Zoom Digital: Até 100X Foco Manual do eixo Óptico Plataforma de foco manual com 70 mm de curso Z Ajuste manual da posição da fase óptica no próprio eixo Estágio Z Motorizado Estágio Z motorizado com 29,5 mm de movimentação no eixo Z e 0,5 µm repetitividade Ajuste motorizado na posição do conjunto de Cabeçote AFM incluindo o suporte do magnético para encaixe do cantilever (Probehand) Estágio XY manual de alta precisão Tamanho da amostra: Até 100 x 100 mm Espessura da amostra: até 20 mm de espessura Trabalhando carga de amostra: até 500 g Faixa de tensão a ser aplicada na amostra em modos elétricos: -10 V to 10 V Eletrônica XY e Z controle eletrônico: circuito fechado de digitalização de feedback em todos os três eixos DSP baseados em eletrônica de controle (600 MHz e 4800 MIPS) DSP placa no controlador, não no computador 21canais DAC de 16-bit 20 canais de 16 bits ADC Realiza os seguintes modos de imagem sem a necessidade de software e hardware adcionais: Modos Padrão -AFM / SPM , incluindo o modo não contato (tru non contact), modo de contato intermitente, modo de contato, LFM (microscopia de força lateral), espectroscopia de força/distancia (F/D) e imagem de fase – Modo PinPointTM: fornece mapeamento de propriedades nanomecanicas como Força de deformação, Força de adesão, Energia de adesão, energia de dissipação e dureza. Modos avançados – MFM (Microscopia de força magnetica) – EFM (Microscopia de força eletrostática) – FMM (Microscopia de modulação de força) – Nanoindentação Modos avançados de imagem que necessitam de aquisiçã ode acessórios ou hardware adcionais: Realiza STM, Enhanced EFM, DC-EFM (GFP), SKPM, SCM, SSRM, STHM, iAFM, VECA, ULCA e Nanolitografia com software adicional e / ou opções de hardware. Quatro saídas digitais para sincronização com dispositivos externos (fim-de-pixel, Fim-de-linha, Fim-de-quadro, e o sinal de referência para oscilação do cantilever) Software Com modo automático e manual para aquisição de dados e vizualização da camera óptica. Para aquisição de dados e visualização óptica. Para processamento de imagens, análise e apresentação. Acessórios Inclui uma grade de calibração lateral / vertical Inclui um suporte para cabeçote 10 ponteiras pré-montados de contato e 10 ponteiras pré-montados de não-contato 10 discos de amostra (700-0902) Manuais Computador com dois monitores . IntelR CoreTM i3 CPU ou compativel . 8 GB DRAM . 2 x 1 TB Hard Disc Drives . Dois monitores LCD de 23 polegadas (1920 x 1080 pixel, DVI) . Graphic card: GeForce GT730 or compatible . Sistema Operacional: Microsoft Windows 10 Professional 64 bit NOTA: Especificação do computador está sujeita a alterações sem aviso prévio. Ref.:0070020 ACOMPANHA: Scanner XY Alcance de varredura de 50 µm × 50 µm – Resolução: 0.7 nm (circuito fechado), < 0.01 nm (circuito aberto) Scanner de 50 µm padrão QTDE.: 00001 Cabeçote padrão do AFM Inclui um scanner Z     – Estrutura guiada por flexão acionada por atuador piezelétrico multicamadas     – faixa de varredura Z: 12 µm     – Controle de posição Z de 16 bits e sensor de posição Z de 16 bits Inclui sonda padrão, onde um cantilever é anexado     – Frequência de oscilação NCM: até 600 kHz     – Faixa de tensão possível de ser aplciada ao cantilever: -10 V a 10 V Detecta a deflexão do cantilever usando SLD (Super Luminescent Diode) para feedback de topografia     – Comprimento de onda SLD: 830 nm     – SLD tem baixa coerência para reduzir a interferência óptica Montagem do cabeçote com trava de fácil instalação e remoção.     – Conecta-se automaticamente à eletrônica. QTDE.: 00001 Câmera CCD de 1.2 M Pixel -Campo de visão: 480 µm x 360 µm (com objetiva de 10x) QTDE.: 00001 Caixa Acústica para AFM QTDE.: 00001 Mesa anti-vibração passiva Plataforma superior de frequências naturais verticais / horizontais muito baixas Frequência natural horizontal de 1,5 ~ 2,5 Hz e frequência natural vertical de 0,5 Hz. Frequência vertical é ajustável a 0,5 Hz QTDE.: 00001 – Inclui EFM avançado, Scanning Kelvin Probe Microscopy (SKPM), Dynamic Contact EFM (DC-EFM) and Microscopia de piezo resposta (PFM). – Fornece maior resolução espacial e sensibilidade; – Inclui amostras de teste de EFM e software – Inclui cantilevers condutores pré-montados (6unidades) QTDE.: 00001 kit de Microscopia de Força Magnética (MFM) – Para medidas de interações magnéticas entre ponta e amostra. – Inclui uma cantilevers de ponta magnética, suporte de amostra não-magnético, amostra de teste e software. – Inclui cantilevers magneticamente revestidos pré-montados (3 unidades) QTDE.: 00001 Amplificador de sinal Lock-in para o microscópio Fabricante: QTDE.: 00001 Porta-Cantilever para meio líquido Imageamento de imagem em liquido (contato e não-contato) permite ambiente de célula fechada quando usado com a célula líquida universal (080-1390) Quimicamente resistivo a condições ácidas / base Compatível com amostras biológicas QTDE.: 00001 Célula líquida aberta – Recipiente para líquidos de PTCFE – Resistiva contra soluções corrosivas – Clip para amostras QTDE.: 00001 Suporte de ponteira usando um suporte de mola – Eletricamente condutora – Potência aplicável a partir de -10 V a +10 V – Dois furos para a pré-montagem para o alinhamento da ponteira QTDE.: 00001 Ferramenta para troca de cantilevers Para encaixar o suporte de montagem de cantilevers (700-0924) QTDE.: 00001 Probe silício ponta simétrica raio <60nm, MagneticMulti 75 -G,- Probe Silício monolítico; Ponta simétrica com ranhuras de alinhamento; – Chip: 3,4 x 1,6 x 0,3mm; – Revestimento Diamond-Like-Coating do lado ponta do cantilever, 15nm de espessura; revestimento de alumínio Reflex no lado detector de cantilever, 30nm de espessura; – Probe com “ângulo de leitura”, ponta simétrica fornece representação mais simétrica de recursos mais de 200 nm.; Pacote com 10 unidades QTDE.: 00002 Cantilever de modo não contato Tap300AL-G – Raio da ponta <10nm; – Modos: Não contato e contato intermitente; – Ponta de silício com formato simétrico – Tamanho do cantilever: 3.4 x 1.6 x 0.3mm; – Recobrimento: 30nm; – 50 unidades; – Dados técnicos: Resonant Freq. 300 kHz +/-100 kHz Force Constant 40 N/m 20 – 75 N/m Length 125 µm +/-10 µm Mean Width 30 µm +/-5 µm Thickness 4 µm +/-1 µm Tip Height 17 µm +/-2 µm Tip Set Back 15 µm +/-5 µm QTDE.: 00001 Probe de silício AFM,: – Revestimento de reflexo de alumínio; – Pacote com 10 unidades; – Raio da ponta: <10nm; QTDE.: 00002 Probe silício ponta simétrica raio <25nm, Probe Silício monolítico; – Ponta simétrica com ranhuras de alinhamento; – Chip: 3,4 x 1,6 x 0,3mm; – Revestimento Electricamente condutora Cr / Pt em ambos os lados do braço de suporte. 5nm Cr coberto com 25nm de Pt; – Probe com “ângulo de leitura”, ponta simétrica fornece representação mais simétrica de recursos mais de 200 nm.; Pacote com 10 unidades QTDE.: 00002 Probe silício ponta simétrica raio <10nm, Contact -G 50 , Probe Silício monolítico; – Ponta simétrica com ranhuras de alinhamento; – Chipsize 3,4 x 1,6 x 0,3mm; Pacote com 50 unidades QTDE.: 00001 Pacote de software para AFM para modos de nanolitografia e nanomanipulação; Incluis software e manual Inclui amostras de testes, cantilevers pré-montados condutores (3 unidades) e cantilevers pré-montados com alta constante de força (3 unidades). QTDE.: 00001 Cantilever para AFM Cantilever adequado para nanolitografia Cobertura refletiva de Al Ponta recoberta com Diamante Comprimento típioc da ponta: 10 – 15 um Raio típico da ponta: 100 – 200 nm k = ~80 N/m, f = ~400 kHz Ref.:6101057 QTDE.: 00001 Garantia estendida por parte do fabricante, vendedor, pelo tempo mínimo de 12 meses. Instalação.

Condições de fornecimento: A proposta deverá ser apresentada em papel timbrado da empresa interessada, constando todos os dados da empresa, bem como validade da proposta.

A data limite para recebimento de propostas é até às 18:00h, do dia 27/08/2020, através dos e-mails: comex@funpec.br / importacao@funpec.br.

Contatos: Iving Caionara de Melo / Geiziane Costa

Operação: FUN 20-064 /  Requisição: 60192020